jesd22 a108
2022年7月28日—JEDECJESD22-A108;.目的:评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力;.失效机制:电子迁移,氧化层破裂,相互扩散,不稳定性,离子玷污等 ...,JEDECJESD22-A108.1*77.Passed.HighlyAcceleratedStressTest.(HAST)*.JEDECJESD22-A110.1*77.Passed...
芯片IC高温工作寿命试验之JEDEC JESD22
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2022年4月23日—1目的.决定电压和温度对器件随时间的影响。加速因素(1)电压,(2)温度。用途:(1)qualification、mortoring.(2)短时间测试作为burnin,作为 ...
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